微分干涉金相顯微鏡特點和運用

微分干涉金相顯微鏡特點和運用

微分干涉金相顯微鏡所運用的是微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC)，這類分析檢驗方式所運用的范疇也很廣，針對金屬探測是最好的光學(xué)顯微鏡挑選。

微分干涉光學(xué)顯微鏡對對金相分析樣品的制取要求較低，所觀察過的樣品各組成相間相對性層級關(guān)聯(lián)突顯，呈很明顯的浮雕圖案狀，對顆粒物、裂痕、孔眼及其突起等能做出準(zhǔn)確判斷，可以非常容易分辨很多明賽場下所看不見的或難以辨別的一些構(gòu)造小細(xì)節(jié)或缺點，可以進(jìn)行彩色金相分析攝影等優(yōu)勢。

但在現(xiàn)在的無損探傷工作上，DIC法還用得非常少。

在金相顯微鏡的檢測方法中，微分干涉相襯法(DIC)是無損探傷的一種強有力專用工具，主要特點大多為:

1、對金相分析樣品的配制規(guī)定減少，對于有些樣品，乃至僅需打磨拋光而不需要浸蝕處理即可開展觀察。優(yōu)點是可以觀察到樣品表層的真實狀態(tài)，或者將試件拋光后在真空下產(chǎn)生馬氏體相變，無需浸蝕就能觀察到奧氏體的改變浮凸。

2、所觀察過的表層具有一定的立體感，呈浮雕圖案狀，樣品各組成相間相對性層級關(guān)聯(lián)都可以顯現(xiàn)出來，對顆粒物、裂痕、孔眼及其突起等都能做出準(zhǔn)確判斷，提升了無損探傷精確性，同時也增加了各相間差距。

3、用微分干涉相襯法觀察樣品，會看見明賽場下所看不見的許多細(xì)節(jié)，明賽場下難以辨別的一些構(gòu)造小細(xì)節(jié)或缺點，可以通過微分干涉開展差距提高而容易分辨。

4、微分干涉相襯法基于傳統(tǒng)的正交和偏光鏡法，又巧妙地利用在渥拉斯頓三棱鏡前提下改良的DIC 三棱鏡和補眉器(λ-片)等，使所觀察的樣品以電子光學(xué)干涉的辦法沾染豐富的色彩，進(jìn)而可以利用彩色膠片或是電子產(chǎn)品(CCD 監(jiān)控攝像頭及其數(shù)碼照相機)開展彩色金相分析顯微攝影。

因為微分干涉相襯得效果和樣品細(xì)節(jié)上的浮雕像及其顏色都是能夠調(diào)節(jié)，因此比正交和偏光鏡更加優(yōu)異。

微分干涉相襯法在原材料無損探傷中的運用：

選用微分干涉相襯法觀察樣品，會看見明賽場下所看不見的許多細(xì)節(jié)，在明賽場下難以辨別的一些構(gòu)造小細(xì)節(jié)或缺點，可以通過微分干涉開展差距提高，繼而在分析過程中就比較容易分辨。

當(dāng)代原材料科技的進(jìn)步，規(guī)定更加精準(zhǔn)的合金成分辨別和分析，通常需要對金相組織的結(jié)構(gòu)、總數(shù)、遍布、尺寸、總面積等數(shù)據(jù)進(jìn)行準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)分析，如球墨鑄件球化率定級、鐵素體(金相組織)百分含量、第二相顆粒幾何參數(shù)及分布等，都要對圖像進(jìn)行精確的形態(tài)描述和精確的數(shù)據(jù)計量檢定。

但在傳統(tǒng)明賽場下所收集到的數(shù)字圖像處理的品質(zhì)在一定程度上取決于樣品的制作總體水平，與此同時由于不同的物相在明賽場下表現(xiàn)出來的灰度值層級很有可能十分相仿，對定量分析金相分析得到的結(jié)果會造成很大的偏差。

假如相互配合微分干涉相襯，把要有興趣的 物相根據(jù)干涉沾染顏色，就可以開始更準(zhǔn)確的定量分析金相檢驗，并且對樣品制取的要求也會有所降低。